Quod defectum potentia altilium? Quid agere?

ଲେଖକ: ଆଇଫ୍ଲୋପାୱାର - Onye na-ebubata ọdụ ọkụ nwere ike ibugharị

I. Intentione culpae 1, altilium intentionis altitudo: post plenum crimen, pugna una chorda vel plures intentiones chordae sunt signanter altiores, et aliae monomers normales sunt. Causa: 1 Collectio errorum; 2LMU statera functionis differentia vel defectus; 3 humilis capacitas altilium, celeri intentione celeri.

Modus processus: 1 Monomer voltage propono valorem altum est, et ipsa voltatio pretii monomerorum comparatur, et si pretii actualis humilis est, idem valor est, reipsa aestimatio est norma LMU The monomer voltage calibrated; si valorem mensuratum congruenter cum valore ostentationis, pugna artificialis emissa est. 2 Compesce, si in intentione sampling linea rupta est, falsa est; 3 postea LMU. 2. Pugna intentionum est humilis: post plenam potestatem stat, pugna una vel plures voltages monomerorum est manifesto humilis, et altera monomer normale est.

Causa: 1 Collectio errorum; 2LMU statera functionis differentia vel defectus; 3 pugna sui ipsius missionem rate; 4 capacitas altilium humilis, voltage gutta in intentione. Modus procedendi: 1 Monomer voltage ostentationis valorem humile est, et mensura vis actualis monomerorum quantitati comparatur. Si valor ille excelsior est quam valor ostensionis, et ipsa vis est norma LMU cum re ipsa pretii.

Monomer intentione calibratur; si valorem mensuratum congruenter cum valore ostentationis, statera manualis comminatio obicitur. 2 Compesce, si in intentione sampling linea rupta est, falsa est; 3 repone LMU; 4 pro vitiosa altilium pack. III, differentialis pressio: dynamica vis differentialis / pressionis static differentia.

Cum incurrens monomer intentione velociter transiliet intentionem abscinditur; dum in iugulo, monomer incidit velocius quam ceterae chordae; cum in fractis vertitur, monomerorum intentione celerius quam aliae chordae augentur. Causa: 1 Coniungens pilae aeneae chartae ligaturae nucis solutae; 2 Coniuncta superficies lutum habet; 3 Pugna sui muneris est magna; 4 filum electricum connexio connexio aenea cardo glutino glutino (in chorda monomerorum resultans); 5 Singulos monomers Caput ultrices. Curatio methodi: 1 Nucem adstringe; 2 Aequaliter nexum superficiei corporis externis; 3 Unius rei crimen in singulas pugnas procu/ ciendum; 4 Mutare quaestionem altilium pack.

4. Voltage: Cum vehiculum currit vel impetum facit, monomerus voltage saliunt. Causa: 1 intentione collectio linea iunctio punctum solvens; 2Lum culpae.

Curatio methodi: 1 Connexionem punctum adstringe; 2 reposito LMU. Secundo, tortor classis defectum I, scelerisque sit amet culpa; calefactio culpae (calefactorio); quando temperatura infra valorem est, quando increpans, calefactio non aperit. Causa: 1 calefactio Nullam vel BMU defectum; 2 schedam calefactionem vel nullam copiam virtutis ambitus abnormes habet.

Modus processus: 1 Reparare vel repone calefactionem nullam vel BMU; 2 Check the power supply circuit. 2 calor dissipatio defectionis (fan); postquam temperatus est supra certum valorem, ventilabrum non operatur. Causa: I fan Nullam vel BMU defectum; Nullam vel ventilabrum potentia copia 2 circuit.

Methodus tractandi: 1 reparare vel reponere ventilabrum Nullam vel BMU defectum; 2 Compesce potestatem copiam ambitus abnormes. 2, caliditas caliditas: terror limen in puncto quodam temperaturae in systematis pilae, cursus vel incurrentis. Causa: 1 temperatura sensoris defectum; culpam 2LMU; 3 Connexio electrica febris localis abnormis; 4 ventilabrum non aperitur, calor dissipatur; 5 motori iuncta; VI praefectus.

Modus processus: 1 Mensuratio caloris sensoris resistentiae valorem valorem ostentationis comparat, si valor actualis gravis est, idem est ac alius valor temperatus, tunc valor temperatus LMU calibratus cum valore actuali; 2 ligamen electricae nexum punctum Serena nexum punctum materiae alienae; 3 pan aperto procurandum; 4 Nulla materia crescat ad fontem caloris segregandi; 5 operationes pro calido dissipando suspendunt; 6 protinus increpans prohibere; 7 Repone LMU. 3, humilis temperatus: terror limen in quibusdam vel paucis temperaturis punctis in systematis altilium, currit vel increpans. Causam: 1 temperies sensoris culpae; culpam 2LMU; 3 sheet calefactio localis abnormes.

Modus processus: 1 Mensuratio caloris sensoris resistentiae valorem valorem ostentationis comparat, si valor actualis altior est quam valor ostentus, re ipsa calibratur cum valore actuali mensurae; 2 Compesce linteamen reparationis calefactionis; 3 postea LMU. IV, temperatura differentia; ad maximum temperatus fermentum methodum. Codificatio.

Tertio arguens defectum, I, dc arguendo culpam; GB / T27930-2015 praecipiens non potest incipere, accusatus et saliens, SOC postquam increpans non reponit. Causa: 1 Pugna culpa (voltage, temperatura, velit et alia abnormalis) 2BMU culpa (arguens moduli vel arguens CAN abnormitas) 3 principalis negativa, praecipiens Nullam abnormalem 4cc1 par resistentiam, CC2 paria de terra voltage abnormes 5PE agri abnormes processus modus: 1 excludere Pugna culpa 2 Reparare / Substitutio culpae Pars 3 Tread Culpa Ratio Report. II, AC defectum notantes; defectum causae: 1 altilium culpa (voltage, temperatura, velit, etc.

) 2BMU culpa (arguens moduli vel notans CAN abnormalis) 3 principale negativum, praecipiens Nullam enormis 4cc par terrae resistentiae, CP paria voltages 5PE abnormalis processus methodi: 1 excludere altilium defectum 2 reparatione / repositum defectum partis 3 cut relatio compptionis, causam deficiendi resolvere. Quartum, velit culpa defectus Causa: altilium archa vel obturaculum-in aqua, lacus nucleus electricus, humiditas alta ambitus, insulatio et positiva falsa, aliae partes pressionis altae (moderator, compressor, etc.) Nulla.

Curatio methodi: 1 par polus positivus, si intentione vel resistentia insulata est valorem minus quam valorem praefinitum, e circulo negativo emanavit; Electrode negativo paria, si resistentia voltage vel insulata est valorem minus quam valorem praefinitum, electrode positivus lacus circa ambitum determinatur. Punctum lacus computatur secundum singularem intentionem valoris voltagiae lacus hoc tempore, et deinde secundum diversos casus processit. V.

culpa communicatio LUM communicatio culpa BMU culpa communicatio; totum vehiculum est 1 vel plures informationes LMU, vel currus totus notitia BMS non habet. Causa: 1LMU/BMU culpa; 2LMU / BMU copia virtutis seu linea communicationis ambitum contactus pauperum contactus; 3 signum impedimenti. Curatio methodi: 1 Repone LMU / BMU; 2 Compesce potestatem copiam ambitus / linea communicationis; 3 scuta cohibe acies, remoto impedimento invenies.

SEX, SOC abnormes 1, inaccurate; Numen nominatim ¡Â notantes = arguens SOC Si "imcurrens SOC" + "Remota SOC" deflectitur ab actu ostentationis valoris vel aestimationis actualis potentiae et SOC secundum debitam relationem SOC et OCV Non correspondent, putamus SOC non accurate. 2, nihil muto; defectio causae: 1 communicatio abnormitates (notitia absentis); 2 abnormitates currentes (Hall and its input output circuit); culpae 3BMU; 4 alias pugna terrores. Curatio methodi: 1 Perficite notitias integras; 2 reparare / reparare defectum componentis; 3 Omni pugna terroribus.

III, citius; causa defectus: 1 abnormalis cyclus communicationis 2 abnormitates currentes (Aula deinceps magna est; feedback vena parva est); 3 monomer intentione humilis, velocior; culpam 4BMU; V Vili siccus. Methodus tractandi: 1 Renova in progressio BMU; 2 Reparare / reparare defectum componentis; IV, morabor. Modus processus: 1 Renovatio BMU programma; 2 Reparare / reficere partem defectum.

5, percutere; confirmant numerum versionis propositum esse verum, abnormes currens defectus Causae: 1 Aula et eius input output circuit; 2 Aula transversa; 3 DC præcipiens Si BMS intentionem seu venam petit 0, minor est patina. Facultatem output output. Modus processus: 1 Renovatio BMU programma; 2 Reparare / reficere partem defectum.